Vergabeverfahren zur Lieferung eines Rasterkraftmikroskop

Ausgeschrieben wird ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschungszwecke. Neben der topographischen Charakterisierung von Proben muss das AFM für die Charakterisierung von (a) piezo- und ferroelektrischen Eigenschaften, (b) elektronischer und ionischer Leitfähigkeit, (c) Oberflächenpotentialen und (d) mechanischen Eigenschaften und für großflächige und dicke Substrate (3x3x2 cm oder mehr) einsetzbar sein. Gefordert werden zudem Messmodi, die ermöglichen, die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe genau zu steuern um sehr weiche organische Stoffe zu untersuchen, eine laterale Auflösung von sub-Nanometer bis zu einigen Dutzend µm. Ein rausch- und driftfreier Closed-Loop-Betrieb ist ein Muss, ebenso wie die Möglichkeit, die Probentemperatur von Raumtemperatur aufwärts zu steuern. Das System muss Hochspannungsbetrieb unterstützen. Entsprechende Kontrollsoftware sowie ein Steuerungs-PC müssen genauso wie Systeminstallation, Schulung und Lieferung Teil des Angebots sein. Aufgrund der Vorgaben des Bewilligungsverfahrens für Großgeräte sind die maximal zur Verfügung stehenden Finanzmittel begrenzt und enden bei 350.000,00 EUR (einschließlich Mehrwertsteuer oder vergleichbar, Zoll und etwaigen Skonti). Angebote, die diesen Grenzwert überschreiten, können nicht berücksichtigt werden. Kalkulatorisch anzugebende Mehrwertsteuer und Zollgebühren sind Bestandteil des Grenzwerts.