UHV-LTSPM

Lieferung eines fabrikneuen unbenutzten Tieftemperatur-Rastersondenmikroskops unter Ultrahochvakuum-Bedingungen (UHV-LTSPM) mit geschlossenem Kühlkreislauf sowie Verbringung an den definierten Verwendungsort und Versetzen in einen voll betriebsbereiten und abnahmefähigen Zustand (Werkliefervertrag). Das UHV-LTSPM soll der genauen Bestimmung der geometrischen und elektronischen Struktur fortgeschrittener zweidimensionaler (2D) Materialien dienen und ist damit ein Schlüsselinstrument im Forschungsgebiet „Nanowissenschaften und Nanotechnologie“ sein. Es soll uns ermöglichen, Nanomaterialien mit Methoden der Oberflächenforschung zu präparieren und zu charakterisieren. Insbesondere ist vom LTSPM Spektroskopie in höchster Orts- und hoher Energieauflösung gefordert. Mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) sollen über unsere bisherigen Arbeiten hinaus einzelne chemische Bindungen sowie schlecht leitende Systeme analysiert werden. Die Apparatur soll den uns zugänglichen Temperaturbereich signifikant erweitern. Im Einzelnen sollen an der Anlage folgende Themen behandelt werden: i) Korrelierte Elektronen in 2D-Metallen, ii) Heterostrukturen von Dichalkogeniden der Übergangsmetalle als Modellsysteme für ultradünne Schaltkreise, iii) Klassifizierung und Bestimmung der elektronischen Eigenschaften von Defekten in hexagonalem Bornitrid (potenzielle Einzelphotonenquellen), iv) Erforschung ultradünner Ferroelektrika (z. B. GeSe) als mögliche Materialien für Sensoren und nichtflüchtige Speicher, und v) Charakterisierung epitaktisch gewachsener Zinnperowskite als alternative Materialien für die Photovoltaik, insbesondere mit Blick auf den Einfluss von Störstellen.