STED Mikroskop

Beschaffungsgegenstand • Gerät gemäß Spezifikation inkl. Lieferung, Inbetriebnahme und Schulung • Service und Wartung gemäß Spezifikation Technische Anforderungen: Mindestanforderungen • Konfokalmikroskop o Objektiv wechselbar zwischen Öl-Objektiv und Luft-Objektiv o Im Lieferumfang enthalten: Öl-Immersionsobjektiv mit möglichst hoher NA (NA >= 1,40), Luftob-jektiv mit möglichst hoher NA (NA >= 0,9) o Probengröße: Universelle Probenhalterung; für Standard-Mikroskop-Slides o Gehäuse um die Probe: zur Temperaturstabilisierung der Probe o Widefield-Abbildung mit s/w (schwarz-weiß) CCD-Kamera (Kamera im Lieferumfang enthalten) o Anregungslaser (gepulst) (nicht-resonante Anregung von NV-Zentren, so dass diese fluoreszieren (Photolumineszenz-Anregung)): Wellenlänge: 518nm; Leistung: >= 450 μW bei 40MHz Repetiti-onsrate o Anregungslaser (gepulst) (zweite nicht-resonante Anregung von NV-Zentren bei Wellenlänge >518nm, so dass aus dem Verhältnis der Detektionsraten bei beiden Anregungswellenlängen der Ladungszustand des NV-Zentrums abgeleitet werden kann (NV- oder NV0)): Wellenlänge: 561nm; Leistung: >= 150 μW bei 40MHz Repetitionsrate o Motorisierter x-y (2D) Verschiebetisch mit Probenhalter o Z-Piezo-Scanner (zur Feinjustage des Arbeitsabstands des Objektivs) inklusive automatisierter Drift-Kompensation o Antibunching Detektion: Aufspaltung des Fluoreszenzsignals in 2 Detektionskanäle im Verhältnis 50/50, so dass Antibunching-Messungen ermöglicht werden; basierend auf zwei baugleichen APDs (avalanche photo detectors) mit Photonen Detektionseffizienz >= 60% und Dunkelzählrate <= 250 Hz; Detektierbarer Wellenlängenbereich der APDs muss das Spektrum von negativ geladenen NV-Zentren (637nm – 720nm) abdecken; optische Filter zum Blocken der Anregungs- und STED-Laser im Lieferumfang enthalten; motorisiertes Pinhole mit automatisierter Ausrichtung o Spektrale Detektion: Spektrale Auflösung der emittierten Photonen in zwei Frequenzbereiche.Zur Unterscheidung des Ladungszustands der abgebildeten NV-Zentren aus dem Verhältnis der Detek-tionsraten. o Bezüglich Detektion: Spektrale Detektion und Antibunching Detektion sollen in zwei Detektions-pfade aufgeteilt sein, so dass der Benutzer einen der zwei Detektionsmodi wählen kann o Alle optischen Komponenten für Anregung und Detektion, inkl. Vorrichtung zum Abrastern der Probe mit dem Anregungslaserstrahl müssen enthalten sein o Gesamtsystem kann von außen, insbesondere ohne das System öffnen zu müssen, ausgerichtet werden Die hierfür erforderliche Hardware und Software muss komplett im Lieferumfang enthal-ten sein. Leistungsbeschreibung STED-Modul o STED-Laser (gepulster Laser) (Für „Emission-Depletion“ der NV-Zentren): Wellenlänge: 775 nm; Leistung: >= 2750 mW bei 40 MHz Repetitionsrate o AOM (Akusto-optischer Modulator) zur Kontrolle der Laserleistung o STED-Funktionalität in 3D (x-y (2D-STED) und x-y-z (3D-STED)); 3D-STED Funktionalität abschaltbar, so dass auch 2D-STED ohne aktivierte STED-Funktionalität in z-Richtung möglich ist o Optische Komponenten für die Einbringung des STED-Strahls in das Mikroskop müssen sich auto-matisiert ausrichten können. Die hierfür erforderliche Hardware muss komplett im Lieferumfang enthalten sein. o Erreichbare Auflösung in x-y (2D-STED): 30nm x 30nm oder kleiner o Erreichbare Auflösung in x-y-z (3D-STED): 100nm x 100nm x 100nm oder kleiner