Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie.

Das Rasternahfeldmikroskop muss in der Lage sein, bildgebend und spektroskopisch Standardhalbleiterproben, 2-dimensionales Material (z. B. Graphen), organisches und anorganisches Material und Biomaterialien zu untersuchen. Das Arbeitsprinzip muss dem Atomkraftmikroskop (AFM), wo mittels AFM-Spitze (tip) die Probe bildgebend untersucht wird, entsprechen. Der Abbildungsfokus der Spitze liegt im Nanometerbereich. Die Plattform: Blendenfreies Nahfeldrastern für hochqualitative optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen und organischer Polymere ohne Faseroptik. Das System muss bildgebend im Bereich sub-THz bis sichtbarem Licht sein. Das System muss im konventionellen AFM modus einsetzbar sein Eine räumliche Auflösung von 10nm (vorgegeben durch die AFM Spitze) ist erforderlich. Ein modularer Aufbau des Mikroskops, mit der Fähigkeit durch weitere Module die Funktionalität zu erhöhen, ist wichtig.