Rasterkraftmikroskop

Bei dem zu beschaffenden Instrument handelt es sich um ein Rasterkraftmikroskop, welches sowohl für schnelle Messungen als auch für Messungen bei hohen Temperaturen geeignet sein soll. Weiterhin muss bei dem Gerät auch die Möglichkeit bestehen, ortaufgelöste, rauscharme Messungen über Mikrowellenimpedanzspektroskopie durchzuführen und damit lokale dielektrische Probeneigenschaften auf der nm-Ebene abzubilden. Das Instrument muss auch eine Untersuchung von großen Proben sowie eine Möglichkeit zur optischen Positionierung der Sondenspitze ermöglichen, insbesondere für nicht-transparente Proben. Um eine schnelle Rasterung auch von großen Proben zu ermöglichen, muss das Gerät als „tip-scanner“ ausgeführt sei, bei dem nur die Sondenspitze und nicht die Probe bewegt wird. Weiterhin soll eine Schallschutzhaube zur akustischen Isolierung sowie eine Schwingungsisolierung vorhanden sein, um optimale Auflösung zu ermöglichen.