Rasterelektronenmikroskop

Im Rahmen der Ausschreibung soll ein Rasterelektronenmikroskop zur Material-, Bauteil- und Oberflächenanalyse einschließlich Zubehör beschafft werden. Die Investition ist notwendig, um einerseits die Aktualität der Gerätetechnik zur Material-, Bauteil- und Oberflächenanalytik sicherzustellen und andererseits die Anpassung an zukünftige Herausforderungen zu ermöglichen. Dies soll über die Modularität hinsichtlich Ausbaufähigkeit sowie die Wandlungsfähigkeit durch Möglichkeiten zur Umrüstung gewährleistet werden. Das Ziel der Investition ist die sichere Beurteilung unserer Fertigungstechnologien in der Anwendung, vor allem in den Bereichen Zerspanungstechnik und Abtragen, Umformtechnik und Fügen sowie Funktionsintegration und Leichtbau. Neben der Auslegungs- und Fertigungskompetenz hat die Bewertung von gefertigten Bauteilen und Oberflächen eine enorme Relevanz für die wissenschaftliche Kompetenz des Instituts. Oberflächeninformationen wie topographische Details müssen in hoher Auflösung.