Parametrisches Testsystem

Neugerät Parametrisches Testsystem mit folgenden Eigenschaften: — 230 VAC, 50 Hz PE / N power distribution unit (PDU) entsprechend deutscher Spannungsnorm, Anschluss für TN-S Netz (kein kombinierter PEN), — es muss volle Kompatibilität zu Keithley Test Environment (KTE) Software sichergestellt sein, — 4 SMU (Strombereich mind. 100 pA bis 1 A; Spannungsbereich mind. 200 mV bis 100 V), — Switch Matrix in 24 pin full force-sense Kelvin Konfiguration, — 2 Digital Multimeter (mind. 7.5 digit resolution; Messbereiche mind. 100 mV bis 100 V), — 1 Multifrequenz Capacitance-Meter (Frequenzbereich mind. 10 kHz bis 1 MHz), — 1 Dual Channel Pulse Generator Unit (Pulseweitenbereich mind. 100 ns bis 100 ms, Rise / Fallzeitbereich mind. 50 ns bis 100 ms, Pulslevelbereich mind.20 Vpp), — Ring Oscillator Option mit Spektrumanalysator (Frequenzbereich mind. 9 kHz bis 3 GHz); Treibersoftware und KULT-Messroutinen für die KTE System Software, — 1 Probe Card Adaptor mit guarded Triax-Verkablung gemäß zu spezifizierendem Pinmapping, — 1 Jahr Garantie, — Vollständige On-Site Systeminstallation durch qualifizierten Serviceingenieur, — System muss bei Installation mit dem vorhandenen S 530 abgeglichen werden -> Vorschlag durch Bieter muss dargestellt werden, — Das System muss mit einem Accretec UF 200 Prober kommunizieren können; genaue Daten auf Anfrage möglich, — Vollständige mechanische Anpassung an das vorhanden UF 200 System, — System muss CE Zertifiziert sein, — Lieferung der Anlage hat nach Incoterm 2010 DDP, CIP oder DAP auf IHP Betriebshof zu erfolgen, — Bei Lieferungen außerhalb der EU ist der Lieferant auch der Importeur, — Inkl. Training.