Optisches Nahfeld-Raster-Mikroskop und AFM

Wir benötigen ein System für die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung. Das System soll zusätzlich zeitaufgelöste magnetische Mikroskopie mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung in Reflektion und Transmission ermöglichen sowie die Messung plasmonischer Anregungen in Nanostrukturen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung. Dazu benötigen wir ein optisches Nahfeld-Raster-Lichtmikroskop für ultraschnelle spektroskopische Messungen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung über einen breiten Photonenenergiebereich, das in Abschnitt 2 dieser Ausschreibung näher beschrieben wird. Die Anlage wird Teil eines größeren Aufbaus für orts- und zeitaufgelöste magneto-optische Kerrmikroskopiemessungen kombiniert mir Brillouin-Spektroskopie an Dünnschicht- und Nanostrukturproben sein und muss die Möglichkeit bieten seine volle Funktionalität über externe Softwarschnittstellen (Labview, Python, etc) zu steuern und automatisiert in ein größeres Messprogramm einzubinden, welches Sekundärgeräte, z. B. Kameras, Lasersysteme und optomechanische Geräte, ansteuert.