Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops

Beschafft werden soll ein Rasterelektronenmikroskop zur Nanoanalytik mit folgenden Spezifikationen: 1 Beschleunigungsspannung von 100 V bis 30 kV 2 Gleichzeitig nutzbare Sekundärelektronendetektoren und Rückstreudetektoren 3 Laterale Auflösung: 1 nm zwischen 1 kV und 30 kV, 1.5 nm unter 1 kV für Proben im magnetfeldfreien Raum 4 Strahlstrom 5 pA – 10 nA mit Stabilität +/- 0.3 % über 1 Stunde 5 60o kipp- und 360o drehbarer Probenteller 6 Schneller Probenwechsel (< 3min) auch für Proben mit Ø > 50 mm 7 EDX-Modul mit Software, Drift-Korrektur und quantitativer Kartierung 8 EBSD inkl. kompletter Software zur Nachbearbeitung, Interpretation und Darstellung der Daten 9 Niedrigvakuum(VP)-Betrieb mit Auflösung < 2 nm (auch < 5 kV) 10 Schnelle Strahlaustastung 11 Benutzerfreundliche Softwaresteuerung, einstellbare Bildspeichertiefe (mindestens 16000 x 16000 Pixel bei höchster Speichertiefe), Windows 10, Netzwerkanschluss 12 Serviceangebote für Wartungen und Reparaturen