Lieferung eines Raman-Mikroskops

Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden. Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen. Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können. Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Leistungsbeschreibung unter dem Menupunkt Vergabeunterlagen.