Lieferung eines analytischen Rasterelektronenmikroskops.

Im Rahmen des Forschungsbaus „Zentrum für Grenzflächendominierte Höchstleistungswerkstoffe“ (ZGH) muss für zahlreiche Forschungsprojekte ein modernes analytisches Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX, WDX und EBSD beschafft werden. Das REM wird für die grundlegende Charakterisierung von Werkstoffoberflächen und insbesondere für die chemische und kristallographische Vorcharakterisierung von größeren Probenoberflächenbereichen benötigt. Die chemische Charakterisierung erfolgt über EDX für eine schnelle Analyse und über WDX für eine präzise Bestimmung der chemischen Zusammensetzung. Kristallographische Aussagen zu auftretenden Phasen, Ausscheidungen, aber auch zur Textur und Art von Korngrenzen werden über EBSD ermittelt. Somit können statistisch abgesicherte Aussagen zur Mikrostruktur getroffen werden. Insbesondere können interessante Probenbereiche identifiziert werden, die mit den höchstauflösenden Methoden des ZGH, TEM und 3D ATP, genauer analysiert werden können.