Infrarotkamera
Auftraggeber: Friedrich-Schiller-Universität Jena · Jena
Friedrich-Schiller-Universität Jena hat einen Auftrag für Labor- und Messtechnik in Jena ausgeschrieben. Die Angebotsfrist endete am 30.11.2023. Bisher kein Ergebnis gefunden.
Wir haben bisher kein Ergebnis zu diesem Verfahren gefunden. Bei nationalen Verfahren wird es oft gar nicht oder ohne Bezug zur Ausschreibung veröffentlicht. Auskunft gibt die Vergabestelle.
Wer folgt, bekommt morgens eine E-Mail, sobald ein Ergebnis oder eine Änderung veröffentlicht ist.
Angaben in Kürze
Aus den Feldern, ohne KI- Was
- Labor- und Messtechnik: Infrarotkamera
- Wo
- Jena, Thüringen
- Bis wann
- Angebotsfrist 30.11.2023, 10:00 Uhr
- Wer kann anbieten
- Jedes Unternehmen, das die Anforderungen der Vergabeunterlagen erfüllt.
Automatisch aus den Feldern der Bekanntmachung vom 14.11.2023, ohne KI. Die Branche ordnen wir selbst zu. Maßgeblich ist die Bekanntmachung. Original lesen ↗ · Fehler melden
Leistungsumfang
Beschreibung laut BekanntmachungDie Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für Forschungszwecke den Kauf einer sensitiven Infrarotkamera für den Wellenlängenbereich zwischen 1000 nm und 1650 nm. Die Infrarotkamera soll zur Charakterisierung von Photolumineszenz von integrierten Lichtquellen und Wellenleiter für den Bereich Telekommunikation. Die Infrarotkamera soll Teil eines Messplatzes zur Untersuchung der Eigenschaften integrierter Lichtquellen und Wellenleitern in einem weiten Wellenlängenbereich sein. Dabei sollen Messungen in einem Wellenlängenbereich vom Nahinfraroten von 1000 nm bis 1650 nm mit einer hohen räumlichen Auflösung erfasst werden werden, da die neuartigen integrierten Lichtquellen in sowohl den typischen Wellenlängen für die Telekommunikation als auch bei kürzeren Wellenlängen im Nahinfraroten emittieren. Aufgrund der integrierten Natur der Lichtquellen sind diese sehr klein und schwer zu messen, weshalb eine hohe Sensitivität und Auflösung der Kamera notwendig sind. Aus diesen, durch die experimentellen Randbedingungen vorgegebenen Bedingungen ergeben sich die folgenden technischen Anforderungen: weiteres siehe Anlage 2
Erfüllungsort
Verlauf
- 14.11.2023 Ausschreibung veröffentlicht
Ähnliche offene Ausschreibungen
Zuschläge dieses Auftraggebers
- Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen NahfeldesZuschlag 10.03.2026 an Attocube Systems AG · 1 Angebot
- PolarisationsanalysemoduleZuschlag 27.02.2026 an Quantum Optics Jena GmbH · 1 Angebot
- Einkristall-Röntgendiffraktometer (Dual-Source) inkl. TieftemperaturanlageZuschlag 26.02.2026 an Einzelunternehmen aus Karlsruhe · 1 Angebot
- Extrudersystem für die kleinskalige PolymerprozessierungZuschlag 27.01.2026 an Three-Tec GmbH · 1 Angebot
- RasterelektronenmikroskopZuschlag 03.12.2025 an point elektronic GmbH · 2 Angebote
- ScansystemeZuschlag 11.11.2025 an Microbox GmbH