Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop für Fest/Flüssig-Grenzflächen

Die Ausschreibung betrifft die Beschaffung eines hochauflösenden Rasterkraftmikroskops für In-Situ-Untersuchungen an katalytisch und elektrokata-lytisch aktiven Fest/Flüssig-Grenzflächen. Da insbesondere topologische Untersuchungen mit atomarer Auflösung an der (dynamischen / elektrifizierten) Flüssig/Fest-Grenz¬fläche von leitenden und nichtleitenden Trägern eine zentrale Rolle spielen werden, ergeben sich eine Reihe spezifischer Anforderungen an das Gerät: Untersu-chungen sollen in verschiedensten flüssigen Phasen – ionische Flüssigkeiten (ILs), wässrige und organische Lösungsmittel – und in reaktiven Gasen über einen breiten Temperaturbereich möglich sein. Weiterhin soll das Gerät über in-situ-Potentialkontrolle verfügen, sowie die Untersuchung lokaler Kräfte und lokaler viskoelastischer Eigenschaften ermöglichen.