Zuschlag erteilt
Nur 1 Angebot
High Resolution Scanning Electron Microscope (SEM) - PR252029-2270-W
Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 · München
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 hat den Auftrag für Labor- und Messtechnik in München am 14.03.2023 vergeben, Zuschlag an Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH. Eingegangen: 1 Angebot.
Zuschlag an
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH Oberkochen
- Summe
- nicht veröffentlicht
- Angebote
- 1 Nur 1 Angebot
- Zuschlag
- 14.03.2023
Quelle: Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de (CC0), veröffentlicht am 20.12.2023.
Angaben in Kürze
Aus den Feldern, ohne KI- Was
- Labor- und Messtechnik: High Resolution Scanning Electron Microscope (SEM) - PR252029-2270-W
- Wo
- München, Bayern
- Wer kann anbieten
- Jedes Unternehmen, das die Anforderungen der Vergabeunterlagen erfüllt.
- Laufzeit
- bis 30.06.2023
Automatisch aus den Feldern der Bekanntmachung vom 20.12.2023, ohne KI. Die Branche ordnen wir selbst zu. Maßgeblich ist die Bekanntmachung. Original lesen ↗ · Fehler melden
Erfüllungsort
Verlauf
- 20.12.2023 Ergebnis veröffentlicht
Häufige Fragen
Wer hat den Auftrag bekommen?
Den Zuschlag hat Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH erhalten.
Ähnliche offene Ausschreibungen
Endet bald
Integriertes 10-Qubit-Experimentiersystem
02.11.2026
noch 2 Tage
nicht angegeben
Wert, geschätzt
Erlangen
Bayern
Endet bald
Armaturenprüfstand
02.11.2026
noch 2 Tage
nicht angegeben
Wert, geschätzt
Nürnberg
Bayern
Endet bald
Messgesamtsystem Erweiterung
03.11.2026
noch 3 Tage
nicht angegeben
Wert, geschätzt
Garching
Bayern
Weitere Zuschläge dieses Auftraggebers
- Prober 300mm (IAF-09.3) - PR971253-2050-PZuschlag 21.04.2026 an FormFactor GmbH · 5 Angebote
- Optical measurement tool (IMS-03) - PR887737-2380-PZuschlag 13.02.2026 an KLA-Tencor GmbH · 3 Angebote
- Burn In Test System (ENAS-11.1) - PR961025-3340-PZuschlag 16.12.2025 an Eles Semiconductor Equipment S.P.A. · 2 Angebote
- Power Meas. System (IAF-09.2) - PR972030-2050-PZuschlag 02.12.2025 an Hitech BV · 5 Angebote
- 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-PZuschlag 27.11.2025 an Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH und point electronic GmbH · 3 Angebote je Los
- Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-PZuschlag 27.11.2025 an TESCAN GmbH und Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH · 2–4 Angebote je Los