Gekoppeltes Rasterkraft-Raman-Mikroskop

Gegenstand der Vergabe ist die Lieferung und Installation eines gekoppelten Rasterkraft-Raman-Mikroskops für die Charakterisierung von plasmonischen und DNA-Nanostrukturen, sowie für die simultane chemische und topographische Charakterisierung unterschiedlicher Materialien. Für die Charakterisierung plasmonischer Nanostrukturen muss die Raman-Anregung mit einer Reihe unterschiedlicher Anregungslaser möglich sein, während gleichzeitig die Topographie der Probe mittels Rasterkraftmikroskopie bestimmt wird. Alternativ muss die Probe auch mittels Dunkelfeldspektroskopie charakterisiert werden können. Sowohl transparente, als auch nicht-transparente Proben müssen untersucht werden können, weshalb die Raman-Messung in Reflektion erfolgen muss. Messungen in Flüssigkeit müssen möglich sein. Das Rasterkraftmikroskop und das Raman-Mikroskop müssen auch separat verwendbar sein. Weiterhin muss das System in der Lage sein, spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie (TERS) messen zu können. Neben der genannten Lieferung und Installation ist ebenfalls eine Einweisung der Anwender anzubieten.