FTIR-Spektralellipsometer

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt für die zerstörungsfreie Messung und Analyse der optischen Eigenschaften von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen im IR-Spektralbereich ein FTIR-Spektralellipsometer aus. Das anzuschaffende FTIR-Spektralellipsometer soll zur Bestimmung der komplexen Dielektrizitätsfunktion bzw. des komplexen Brechungsindex im Spektralbereich von 2 µm bis 30 µm der Einzelschichten von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen bestehend aus Materialien wie Dielektrika, Halbleiter, Polymere, Biofilme und Metalle eingesetzt werden. Die Modellierungs-Software des Gerätes soll die Entwicklung parametrischer Modelle von neuen, auch anisotropen Materialien, z.B. von IR-Breitbandabsorbern, von IR-Metamaterialien und von IR-Gradientenschichten, ermöglichen, ohne dass die Daten außerhalb des Meßbereichs mit einer Kramers-Kronig-Analyse extrapoliert werden müssen. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%