Erweiterung eines vorhandenen Mikroskopiemessplatzes mit einem Rasterelktronenmikroskop

Für einen Mikroskopie-Messplatz soll ein weiteres REM gekauft werden das folgende Anforderungen erfüllt. Austauschbarkeit der bereits vorhandenen Probentische/Mess-Module zwischen neuem und vorhandenen Mikroskopen im IEK: Kühltisch, Zugtisch und der Glovebox-Transfermodule auch für große Proben (50 mmx35 mm bzw. 8 Stiftprobenhalter gleichzeitig) Ermöglichung von Mess-Kampagnen im REM mit bereits vorhandenem auf Zeiss Mikroskope angepasstem Nano-Indenter Vergleichbarkeit und Austauschbarkeit der Ergebnisse mit vorhandener Datenbank. Austauschbarkeit von im IEK-1 selbst entwickelten und in der institutseigenen Werkstatt für Feinmechanik selbst hergestellten Probenhaltern für beispielsweise komplette Brennstoffzellen. Die Firma Zeiss ist der einzige Anbieter eines FEREM, der eine elektrische und insbesondere magnetische Linsenkompensation im Zusammenhang mit einem sogenannten beam-booster (übersetzt: Strahlführungsrohr oder Strahlbeschleuniger) anbietet.