EO006-17 Nanolab: Herstellung, Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training.

Herstellung, Lieferung, Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training/Einweisung: Das hochauflösende, vielseitige Raster-Kraftmikroskop (AFM) dient zur Charakterisierung von Oberflächen auf Nanoskala mittels unterschiedlicher Raster-Kraft Abbildungsmodi, Rastertunnelmikroskopie, sowie (simultane) Messung von Topographie und lokaler elektrischer Leitfähigkeit, quantitativen Kraft-Modus basierend auf Kraft-Abstandskurven, Raster Kraftspektroskopie, und Kelvin-Probe zur Messung von Oberflächenpotentialen. Die mit dem AFM zu charakterisierenden Proben umfassen Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies, Block Copolymere, poröse Systeme, Komposite und andere nanoskalige Probenoberflächen aller Materialklassen. Das Raster-Kraftmikroskop muss elektrochemische Analysen in situ in einer elektrochemischen Umgebung ermöglichen.