Zuschlag erteilt
Nur 1 Angebot
Dielektrikums-Applikator Ultraschallmikroskop - PR799685-2590-W
Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 · München
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 hat den Auftrag für Labor- und Messtechnik in Berlin am 16.12.2024 vergeben, Zuschlag an htt high tech trade GmbH. Eingegangen: 1 Angebot.
Zuschlag an
htt high tech trade GmbH München
- Summe
- nicht veröffentlicht
- Angebote
- 1 Nur 1 Angebot
- Zuschlag
- 16.12.2024
Quelle: Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de (CC0), veröffentlicht am 17.12.2024.
Angaben in Kürze
Aus den Feldern, ohne KI- Was
- Labor- und Messtechnik: Dielektrikums-Applikator Ultraschallmikroskop - PR799685-2590-W
- Wo
- Berlin
- Wer kann anbieten
- Der Auftraggeber verhandelt direkt mit ausgewählten Unternehmen.
Automatisch aus den Feldern der Bekanntmachung vom 17.12.2024, ohne KI. Die Branche ordnen wir selbst zu. Maßgeblich ist die Bekanntmachung. Original lesen ↗ · Fehler melden
Erfüllungsort
- Ort
- 13355 Berlin
- Kreis
- Berlin
- Bundesland
- Berlin
- NUTS
- DE300
Verlauf
- 17.12.2024 Ergebnis veröffentlicht
Häufige Fragen
Wer hat den Auftrag bekommen?
Den Zuschlag hat htt high tech trade GmbH erhalten.
Ähnliche offene Ausschreibungen
Endet bald
Radio-frequency electrical spectrum analyzers
03.11.2026
morgen
nicht angegeben
Wert, geschätzt
Berlin
Berlin
Endet bald
Benchtop-Röntgendiffraktometer
03.11.2026
morgen
nicht angegeben
Wert, geschätzt
Berlin
Berlin
Endet bald
Interferometric Modules
03.11.2026
morgen
nicht angegeben
Wert, geschätzt
Berlin
Berlin
Weitere Zuschläge dieses Auftraggebers
- Prober 300mm (IAF-09.3) - PR971253-2050-PZuschlag 21.04.2026 an FormFactor GmbH · 5 Angebote
- Optical measurement tool (IMS-03) - PR887737-2380-PZuschlag 13.02.2026 an KLA-Tencor GmbH · 3 Angebote
- Burn In Test System (ENAS-11.1) - PR961025-3340-PZuschlag 16.12.2025 an Eles Semiconductor Equipment S.P.A. · 2 Angebote
- Power Meas. System (IAF-09.2) - PR972030-2050-PZuschlag 02.12.2025 an Hitech BV · 5 Angebote
- 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-PZuschlag 27.11.2025 an Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH und point electronic GmbH · 3 Angebote je Los
- Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-PZuschlag 27.11.2025 an TESCAN GmbH und Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH · 2–4 Angebote je Los