Cypher ES Environmental AFM System with High Voltage Option for PFM/ESM

AFM mit verschiedenen Optionen, um Parameter wie Probentopographie, lokale Rauigkeit und Elastizität der Probenoberfläche, elektrochemisch relevante Parameter wie lokale Leitfähigkeit (CAFM-Modus), Oberflächenpotential (KPFM-Modus), lokale Gitterdehnung durch Ioneninsertion (ESM-Modus, verwandt mit PFM) etc. mit extrem hoher Auflösung zu messen. Dabei sollen Scans der Oberfläche (Auflösung von ca. 30 x 30 μm bis hin zu atomarer Auflösung), als auch punktuelle Messungen wie Cyclovoltammetrie-Messungen oder Kraft-Abstandskurven zur Ermittlung der Adhäsionskräfte und Elastizität durchgeführt werden.