AFM-System.

Lieferung eines Rasterkraftmikroskops für die Bildgebung mit atomarer Auflösung für Proben an Luft und in Flüssigkeiten auf oxidischen, mineralischen und biologischen Oberflächen mit folgenden Mindestanforderungen: 1.1 Es wird ein AFM benötigt, das optimale Voraussetzungen für die atomare Abbildung mit der genannten Oberflächen an Luft und unter Flüssigkeiten bietet. Punktdefekte in der Kristalloberfläche sollen routinemäßig abgebildet werden können. Durch schnelles Abbilden sollen insbesondere dynamische Prozesse an den Oberflächen, wie Diffusion und parakristalline Umlagerungen untersucht werden. Es soll auch die Möglichkeit bestehen das Gerät zu Video-Rate AFM Geschwindigkeiten aufzurüsten. 1.2 Das Gerät soll einen sogenannten „closed-loop-Betrieb“ ermöglichen und dabei extrem rauscharme, langzeitstabile, und induktive Sensoren in allen Raumrichtungen zum Rastern aufweisen, um die gewünschte atomare Auflösung zu erzielen. ... (weitere siehe Punkt II.2.4).