A733 AFM Mikroskop

Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)- Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems