Streulichtnahfeldmikroskop FT-SNOM@THz

Die Universität Regensburg (Auftraggeber) plant die Beschaffung eines Nahfeldmikroskops, das auf dem Streulichtprinzip basiert (s-SNOM) und das ebenfalls im Conductive-AFM Modus für lokale elektrische Transport Messungen und im Kelvin Probe Modus für die Bestimmung der lokalen Austrittsarbeit betrieben werden kann. Beim s-SNOM soll spektral breitbandige THz-Strahlung von einem Speicherring eingekoppelt werden. Die Spektroskopie im Nahfeld mit breitbandiger Strahlung muss über ein asymmetrisches Michelson-Interferometer mit integrierter Rastersonde mittels Fouriertransformationsspektroskopie erfolgen, so dass das rückgestreute elektrische Feld in Amplitude und Phase erfasst werden kann. Darüber hinaus muss das anzuschaffende Gerät über eine Anwendungs-programmierschnittstelle verfügen, um komplexe Messabläufe durchführen zu können. Ein- und Auskoppeloptik muss zudem eine besonders hohe numerische Apertur (NA) aufweisen. Streulichtnahfeldmikroskop FT-SNOM@THz