Abgelaufen Öffentliche Ausschreibung (national) · veröffentlicht am 14.02.2023

Rasterelektronenmikroskop

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 · München

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 hat einen Auftrag für Labor- und Messtechnik in Lübeck ausgeschrieben. Die Angebotsfrist endete am 16.03.2023. Bisher kein Ergebnis gefunden.

Die Angebotsfrist endete am 16.03.2023, 14:00 Uhr. Frist abgelaufen

Wir haben bisher kein Ergebnis zu diesem Verfahren gefunden. Bei nationalen Verfahren wird es oft gar nicht oder ohne Bezug zur Ausschreibung veröffentlicht. Auskunft gibt die Vergabestelle.

Ähnliche offene Ausschreibungen Folgen

Wer folgt, bekommt morgens eine E-Mail, sobald ein Ergebnis oder eine Änderung veröffentlicht ist.

Angaben in Kürze

Aus den Feldern, ohne KI

Was: Labor- und Messtechnik: Rasterelektronenmikroskop
Wo: Lübeck, Schleswig-Holstein
Bis wann: Angebotsfrist 16.03.2023, 14:00 Uhr
Wer kann anbieten: Jedes Unternehmen, das die Anforderungen der Vergabeunterlagen erfüllt.

Automatisch aus den Feldern der Bekanntmachung vom 14.02.2023, ohne KI. Die Branche ordnen wir selbst zu. Maßgeblich ist die Bekanntmachung. Original lesen ↗ · Fehler melden

Erfüllungsort

Ort: 23562 Lübeck
Kreis: Lübeck
Bundesland: Schleswig-Holstein
NUTS: DEF

Verlauf

14.02.2023 Ausschreibung veröffentlicht

Quellen Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de ↗ Vergabeunterlagen auf vergabe.fraunhofer.de ↗ Daten: Bekanntmachungsservice, Lizenz CC0. Namen und persönliche Kontaktdaten von Ansprechpersonen entfernen wir automatisch. Ist uns etwas entgangen? Fehler melden

Zuschläge dieses Auftraggebers

Prober 300mm (IAF-09.3) - PR971253-2050-PZuschlag 21.04.2026 an FormFactor GmbH · 5 Angebote
Optical measurement tool (IMS-03) - PR887737-2380-PZuschlag 13.02.2026 an KLA-Tencor GmbH · 3 Angebote
Burn In Test System (ENAS-11.1) - PR961025-3340-PZuschlag 16.12.2025 an Eles Semiconductor Equipment S.P.A. · 2 Angebote
Power Meas. System (IAF-09.2) - PR972030-2050-PZuschlag 02.12.2025 an Hitech BV · 5 Angebote
3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-PZuschlag 27.11.2025 an Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH und point electronic GmbH · 3 Angebote je Los
Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-PZuschlag 27.11.2025 an TESCAN GmbH und Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH · 2–4 Angebote je Los