Rasterelektronenmikroskop

I. Allgemeines An der Bergischen Universität Wuppertal soll ein hochauflösendes Gerät für die Rastertunelmikroskopie (STM) und -spektroskopie (STS) zur Untersuchung der elektronischen Struktur von neuartigen Quantenmaterialien beschafft werden. Das Gerät soll bei einer Basistemperatur von 30 mK arbeiten, um zum einen die nur bei sehr tiefen Temperaturen auftretenden Grundzustände zugänglich zu machen und zum anderen eine möglichst hohe Energieauflösung von etwa 30 ?eV zu erzielen. Zur magnetischen Manipulation der zu untersuchenden Probensysteme und der Tunnelspitzen soll das Gerät mit einem Vektormagneten ausgestattet werden, der es ermöglicht, am Probenort Magnetfelder mit Flussdichten von mehreren Tesla sowohl senkrecht als auch parallel zur Proben oberfläche anzulegen. Außerdem soll das Gerät mit einem Ultrahochvakuum-System (UHV) ausgestattet werden, in dem Proben und Messspitzen kontaminationsfrei präpariert werden können. Der Transfer der Proben und Spitzen vom UHV-System in das Rastertunnelmikroskop muss innerhalb des UHV möglich sein. Das Gerät schließt ein System aus passiven und aktiven Dämpfungselementen für die Entkopplung des Geräts von Gebäudeschwingungen mit ein.