Profilometer aktualisiert

Im Rahmen der Projekte GAIA-X für KI und R3D3 möchte die Technische Hochschule Ingolstadt (THI) ein Messgerät beschaffen, das eine Kombination aus einem optischen Profilometer und einem konfokalen Mikroskop darstellt. Die Kombination der Geräte ist notwendig, um Messungen an Proben zu ermöglichen, die von sehr kleinen Größen (im nm-Bereich) in der gedruckten Elektronik bis hin zu größeren Proben in mikroelektronischen Gehäusen reichen. As a part of the projects GAIA-X für KI and R3D3, Technische Hochschule Ingolstadt (THI) would like to procure a measurement equipment which is a combination of an optical profilometer and a confocal microscope. The combination of the equipment is necessary to facilitate measurements on samples varying from very small (nm range) scale, in printed electronics, to larger scale samples in microelectronics packaging. Profilometer aktualisiert