OV_LK_Rasterdurchstrahlungsmikroskop

Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und Bauelementen etabliert. Dazu werden in der Probenumgebung des TEM durch äußere Stimuli Bedingungen geschaffen, denen die untersuchte Probe oder das Bauelement unter realen Bedingungen ausgesetzt wird. Auf diese Weise lassen sich die relevanten strukturellen, chemischen und elektronischen Veränderungen auf einer breiten Größenskala bis hin zu einzelnen Atomen in-situ und in-operando visualisieren, verstehen und manipulieren. Dazu soll ein modernes vollanalytisches (Raster)transmissionselektronenmikroskop ((S)TEM Scanning Transmission Electron Microscope) beschafft werden. Diese Anlage soll die Analyse eines breiten Spektrums auch empfindlichster optoelektronischer Materialien und verschiedenster Fragestellungen ermöglichen. Das zu untersuchende Materialspektrum reicht von klassischen Hableitern (Si, Ge, GaAs) und Halbleiterheterostrukturen (SiGe/Si, GaN/AlInGaN) über Oxide (Sesquioxide / Perovskite) und Fluoride für Laseranwendungen bis zu 2D-Materialien. Der Auftragnehmer muss die Anlage an den Verwendungsort, Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Newtonstraße 15, Raum 0.504, 12489 Berlin liefern, dort vollständig installieren und in Betrieb nehmen. Eine Vorort-Inspektion der Räumlichkeiten durch den Bieter ist vor der Angebotsabgabe erforderlich. Hierbei sollen die Raummaße erfasst und mögliche magnetische Felder, akustische Signale, Temperaturschwankungen und Bodenschwingungen detektiert werden, die sich negativ auf die Performanz auswirken können. Die Ergebnisse sind dem Angebot beizulegen. Zum Leistungsumfang gehören ebenfalls: - Bekanntgabe in dem Angebot der Abmessungen und des jeweiligen Gewichts der einzelnen Mikroskopteile, - die Bereitstellung eines vollständigen Nutzerhandbuchs in englischer Sprache in elektronischer Form, - Durchführung einer Schulung (6 Tage á 8h). OV_LK_Rasterdurchstrahlungsmikroskop