Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy)

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Gerät für die Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy) anzuschaffen. Das System soll durch Rasterkraftmikroskopie (unterstützt durch optische Charakterisierung) geeignet sein, Oberflächen und darauf immobilisierte Strukturen mit nanoskaliger Auflösung zu charakterisieren und dabei die Topographie sowie mechanische Eigenschaften lateral aufgelöst sowohl an Luft wie auch in Flüssigkeiten darzustellen. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem AFM-Messkopf einschließlich motorisierter Probenaufnahme und einem inversen optischen Mikroskop bestehen, und die für den Betrieb notwendige Software und Vibrationsisolation beinhalten.