Hochgeschwindigkeitskomponente Pin Scale SL.

Technische Beschreibung der Hochgeschwindigkeitskomponente Pin Scale SL Im Rahmen des Ausbaus der Infrastruktur zum Design, Fertigung und Test von optoelektronischen Schaltungen werden u. A. Hochfrequenztestsysteme benötigt, die in der Lage sind hohe Datenraten von über 10Gbps pro Datenkanal zu erzielen. Mit Hilfe dieser Testsysteme sollen u. A. elektrische Hochfrequenzschaltungen getestet werden, die ein wesentlicher Bestandteil der optoelektronischen Systeme darstellen. Neben den Hochgeschwindigkeitskanälen muss die Möglichkeit bestehen, die zu testenden Prüflinge über weitere Kanäle anzusteuern. Zu diesem Zweck soll das bestehende Advantest V93000 SOC Testsystem um die Hochfrequenzkomponente PinScale SL mit einer Datenrate von bis zu 16Gbps pro Kanal erweitert werden. Die PinScale SL ist gegenwärtig die einzige Komponente, die die erforderlichen Datenraten erreichen kann.