# Rasterelektronenmikroskope

Zuschlag erteilt

Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung hat den Auftrag für Labor- und Messtechnik im Kreis Herzogtum Lauenburg am 31.08.2018 vergeben, Zuschlag an Carl Zeiss Microscopy GmbH und TESCAN GmbH. Zuschlagssumme laut Bekanntmachung: 1.773.900 €. Eingegangen: 2–3 Angebote je Los.

- Auftraggeber: Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung
- Was: Labor- und Messtechnik: Rasterelektronenmikroskope
- Wo: Kreis Herzogtum Lauenburg, Schleswig-Holstein
- Wer kann anbieten: Jedes Unternehmen, das die Anforderungen der Vergabeunterlagen erfüllt.
- Laufzeit: 30.07.2018 bis 15.12.2018
- Lose: 2 Lose, einzeln anzubieten laut Bekanntmachung
- Zuschlag an: Carl Zeiss Microscopy GmbH und TESCAN GmbH
- Zuschlag am: 31.08.2018
- Summe: 1.773.900 €
- Angebote: 2–3 je Los

## Gewinner

- [Carl Zeiss Microscopy GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/carl-zeiss-microscopy-gmbh-oberkochen), Oberkochen
- [TESCAN GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/tescan-gmbh), Dortmund

## 2 Lose

- Los 1: Focused Ion Beam – Rasterelektronmikroskop (FIB-REM) · [Carl Zeiss Microscopy GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/carl-zeiss-microscopy-gmbh-oberkochen), Oberkochen
- Los 2: Feldemissions Gallium Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop · [TESCAN GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/tescan-gmbh), Dortmund

## Leistungsumfang

Los1: Diese Leistungsbeschreibung spezifiziert ein Focused Ion Beam – Rasterelektronmikroskop (FIB-REM) mit Energiedispersive Röntgenspektroskopie – Electron Back Scatter Diffraction (EDX-EBSD) Analysensystem: Feldemitter REM mit fokussiertem GaIonenstrahlsystem für 3D-Analysen, wie Tomographie-, EDX- und EBSD-Messungen mit hoher Auflösung, hohem Strahlstrom und Beschleunigungsspannungserhöhung in der Säule: Los 2: Diese Leistungsbeschreibung spezifiziert ein FE- Ga-FIB- REM (Feldemissions Gallium Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop) mit EDX (Energiedispersiven Röntgen)- Analysensystem und optionalem Quadrupol- oder ToF- SIMS (Time of Flight Sekundär Ionen Massenspektrometer) System. Schottky- Feldemitter REM für hohe Auflösung und hohen Strahlstrom, mit fokussiertem Ionenstrahlsystem, Beschleunigungsspannungserhöhung in der Säule für bessere Auflösung bei kleinen Hochspannungen. Anwendungsbereich im Bereich Materialforschung.

## Angaben laut Bekanntmachung

- Verfahren: Öffentliche Ausschreibung (national)
- Art des Auftrags: Lieferung
- Geschätzter Wert: nicht angegeben
- Nachprüfung: Die Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
- CPV-Code: 38511100-1
- CPV-Bezeichnung: [Rasterelektronenmikroskope](https://vergabeweiser.de/cpv/38511100-rasterelektronenmikroskope)
- Bekanntmachungs-ID: 272758-2018

## Verlauf

- 26.06.2018: Ausschreibung veröffentlicht
- 04.09.2018: Ergebnis veröffentlicht

## Häufige Fragen

**Wer hat den Auftrag bekommen?**
Den Zuschlag hat Carl Zeiss Microscopy GmbH und TESCAN GmbH erhalten, Summe 1.773.900 €.

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## Von hier aus weiter

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- [Öffentliche Ausschreibung](https://vergabeweiser.de/wissen/oeffentliche-ausschreibung): Wissen: Ablauf und Begriffe

Automatisch aus den Feldern der Bekanntmachung vom 04.09.2018, ohne KI. Die Branche ordnen wir selbst zu. Stand: 31.10.2026.

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Quelle: Bekanntmachung auf TED – Tenders Electronic Daily (© Europäische Union), https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/384665-2018. Maßgeblich ist die Bekanntmachung. Seite: https://vergabeweiser.de/ausschreibung/rasterelektronenmikroskope-2727582018