# Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

Zuschlag erteilt

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 hat den Auftrag für Labor- und Messtechnik in Halle am 27.11.2025 vergeben, Zuschlag an TESCAN GmbH und Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH. Eingegangen: 2–4 Angebote je Los.

- Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Was: Labor- und Messtechnik: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P
- Wo: Halle, Halle (Saale), Sachsen-Anhalt
- Wer kann anbieten: Zuerst Teilnahmeantrag, danach geben nur ausgewählte Bewerber ein Angebot ab.
- Laufzeit: 01.06.2026 bis 30.06.2026
- Lose: 3 Lose, einzeln anzubieten laut Bekanntmachung
- Zuschlag an: TESCAN GmbH und Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH
- Zuschlag am: 27.11.2025
- Summe: nicht veröffentlicht
- Angebote: 2–4 je Los

## Gewinner

- [TESCAN GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/tescan-gmbh), Dortmund
- [Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/carl-zeiss-microscopy-deutschland-gmbh), Oberkochen

## 3 Lose

- Los 1: Los 1: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) · [TESCAN GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/tescan-gmbh), Dortmund
- Los 2: Los 2: high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) · [Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/carl-zeiss-microscopy-deutschland-gmbh), Oberkochen
- Los 3: Los 3: high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) · [Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/carl-zeiss-microscopy-deutschland-gmbh), Oberkochen

## Angaben laut Bekanntmachung

- Verfahren: Verhandlungsverfahren mit Teilnahmewettbewerb (EU-weit)
- Art des Auftrags: Lieferung
- Geschätzter Wert: nicht angegeben
- Nachprüfung: Vergabekammern des Bundes
- CPV-Code: 38511100-1
- CPV-Bezeichnung: [Rasterelektronenmikroskope](https://vergabeweiser.de/cpv/38511100-rasterelektronenmikroskope)
- Bekanntmachungs-ID: e41198fb-75f7-49a8-99e2-903867943445

## Verlauf

- 27.04.2025: Ausschreibung veröffentlicht
- 10.12.2025: Ergebnis veröffentlicht

## Häufige Fragen

**Wer hat den Auftrag bekommen?**
Den Zuschlag hat TESCAN GmbH und Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH erhalten.

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Automatisch aus den Feldern der Bekanntmachung vom 10.12.2025, ohne KI. Die Branche ordnen wir selbst zu. Stand: 30.10.2026.

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Quelle: Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de (CC0), https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/search/details?noticeId=90ac6b5c-151c-4c2b-b8b4-65b36e6c2212. Maßgeblich ist die Bekanntmachung. Seite: https://vergabeweiser.de/ausschreibung/precise-ion-beam-based-trenching-tool-imws-032-high-performance-ga-fib-e41198fb