# Automatisiertes, konfokales Laserscanning- und Weitfeld-Mikroskop.

Zuschlag erteilt · Nur 1 Angebot

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) hat den Auftrag für Labor- und Messtechnik in BAM-Berlin am 09.11.2017 vergeben, Zuschlag an Leica Microsystems Vertrieb GmbH. Eingegangen: 1 Angebot.

- Auftraggeber: [Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)](https://vergabeweiser.de/vergabestelle/bundesanstalt-fuer-materialforschung-und-pruefung-bam)
- Was: Labor- und Messtechnik: Automatisiertes, konfokales Laserscanning- und Weitfeld-Mikroskop.
- Wo: BAM-Berlin
- Wer kann anbieten: Der Auftraggeber verhandelt direkt mit ausgewählten Unternehmen.
- Zuschlag an: Leica Microsystems Vertrieb GmbH
- Zuschlag am: 09.11.2017
- Summe: nicht veröffentlicht
- Angebote: 1

## Gewinner

- [Leica Microsystems Vertrieb GmbH](https://vergabeweiser.de/unternehmen/leica-microsystems-vertrieb-gmbh), Wetzlar

## Angaben laut Bekanntmachung

- Verfahren: Vergabe ohne Teilnahmewettbewerb (EU-weit)
- Art des Auftrags: Lieferung
- Geschätzter Wert: nicht angegeben
- Nachprüfung: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
- CPV-Code: 38510000-3
- CPV-Bezeichnung: [Mikroskope](https://vergabeweiser.de/cpv/38510000-mikroskope)
- Bekanntmachungs-ID: 458083-2017

## Verlauf

- 16.11.2017: Ergebnis veröffentlicht

## Häufige Fragen

**Wer hat den Auftrag bekommen?**
Den Zuschlag hat Leica Microsystems Vertrieb GmbH erhalten.

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## Von hier aus weiter

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- [Ausschreibungen des Bundes](https://vergabeweiser.de/thema/bund): Ausschreibungen und Zahlen
- [Verhandlungsverfahren](https://vergabeweiser.de/wissen/verhandlungsverfahren): Wissen: Ablauf und Begriffe

Automatisch aus den Feldern der Bekanntmachung vom 16.11.2017, ohne KI. Die Branche ordnen wir selbst zu. Stand: 01.11.2026.

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Quelle: Bekanntmachung auf TED – Tenders Electronic Daily (© Europäische Union), https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/458083-2017. Maßgeblich ist die Bekanntmachung. Seite: https://vergabeweiser.de/ausschreibung/automatisiertes-konfokales-laserscanning-und-weitfeld-mikroskop-4580832017